-
1تقرير
المؤلفون: Braun, Martin, Gruhl, Christian, Hans, Christian A., Härtel, Philipp, Scholz, Christoph, Sick, Bernhard, Siefert, Malte, Steinke, Florian, Stursberg, Olaf, Berg, Sebastian Wende-von
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Systems and Control
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2407.03021
-
2مؤتمر
المصدر: 2023 62nd IEEE Conference on Decision and Control (CDC) Decision and Control (CDC), 2023 62nd IEEE Conference on. :2172-2177 Dec, 2023
Relation: 2023 62nd IEEE Conference on Decision and Control (CDC)
-
3
-
4مؤتمر
المصدر: 2023 American Control Conference (ACC) American Control Conference (ACC), 2023. :1383-1389 May, 2023
Relation: 2023 American Control Conference (ACC)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Siefert, W.Aff1, IDs40194024017380_cor1, Buehner, M., Alexandrov, B. T.
المصدر: Welding in the World: The International Journal of Materials Joining. 68(6):1575-1590
-
6تقرير
المؤلفون: Koeln, Justin, Bird, Trevor J., Siefert, Jacob, Ruths, Justin, Pangborn, Herschel, Jain, Neera
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Systems and Control
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2310.15426
-
7تقرير
المؤلفون: Moore, Nicholas S., Cyr, Eric C., Ohm, Peter, Siefert, Christopher M., Tuminaro, Raymond S.
مصطلحات موضوعية: Mathematics - Numerical Analysis, Computer Science - Computational Engineering, Finance, and Science, Computer Science - Machine Learning
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2310.14084
-
8تقرير
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: D. Youssefi, D. Derksen, D. Migel-Arachchige, J. Siefert, L. Dumas, J. Guinet
المصدر: The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences, Vol XLVIII-4-W12-2024, Pp 149-155 (2024)
مصطلحات موضوعية: Technology, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040, Applied optics. Photonics, TA1501-1820
وصف الملف: electronic resource
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Siefert, J.A., Bird, T.J., Koeln, J.P., Jain, N., Pangborn, H.C.
المصدر: IEEE Control Systems Letters IEEE Control Syst. Lett. Control Systems Letters, IEEE. 7:355-360 2023