يعرض 1 - 10 نتائج من 28 نتيجة بحث عن '"Sieg, R. M."', وقت الاستعلام: 1.35s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    The growth of infrared antimonide-based semiconductor lasers by metal-organic chemical vapor deposition

    المؤلفون: Biefeld, R. M., Allerman, A. A., Kurtz, S. R., Jones, E. D., Fritz, I. J., Sieg, R. M.

    المصدر: Journal of Materials Science: Materials in Electronics. November 2002 13(11):649-657

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Scanning force microscopy studies of GaAs films grown on offcut Ge substrates

    المؤلفون: Xu, Q., Hsu, J. W. P., Ting, S. M., Fitzgerald, E. A., Sieg, R. M., Ringel, S. A.

    المصدر: Journal of Electronic Materials. 27(9):1010-1016

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Anti-phase domain-free growth of GaAs on offcut (001) Ge wafers by molecular beam epitaxy with suppressed Ge outdiffusion

    المؤلفون: Sieg, R. M., Ringel, S. A., Ting, S. M., Fitzgerald, E. A., Sacks, R. N.

    المصدر: Journal of Electronic Materials. July 1998 27(7):900-907

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    The Effect of the Zn Interstitial Defect on the Performance of p/n InP Solar Cells

    المؤلفون: Hoffman, Jr, R. W., Fatemi, N. S., Weizer, V. G., Jenkins, P., Stan, M. A., Ringel, S. A., Sieg, R. M., Scheiman, D. A., Wilt, D. M., Brinker, D. J.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library. 485(1):235-240

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    The Role of Nitrogen-Induced Localization and Defects in InGaAsN (≈ 2% N): Comparison of InGaAsN Grown by Molecular Beam Epitaxy and Metal-Organic Chemical Vapor Deposition

    المؤلفون: Kurtz, Steven R., Allerman, A. A., Klem, J. F., Sieg, R. M., Seager, C. H., Jones, E. D.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library. 692(1)

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    تقرير
    New technique for oil backstreaming contamination measurements

    المؤلفون: Alterovitz, S. A, Speier, H. J, Sieg, R. M, Drotos, M. N, Dunning, J. E

    المصدر: Solid State Technology Branch of NASA Lewis Research Center: Fifth Annual Digest.

    مصطلحات موضوعية: Research And Support Facilities (Air)

    URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19940016038

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    تقرير
    Ellipsometric study of Si(0.5)Ge(0.5)/Si strained-layer superlattices

    المؤلفون: Sieg, R. M, Alterovitz, S. A, Croke, E. T, Harrell, M. J

    المصدر: Solid State Technology Branch of NASA Lewis Research Center: Fifth Annual Digest.

    مصطلحات موضوعية: Solid-State Physics

    URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19940016036

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    تقرير
    Ellipsometric characterization of In(0.52)Al(0.48)As and of modulation doped field effect transistor structures on InP substrates

    المؤلفون: Alterovitz, S. A, Sieg, R. M, Pamulapati, J, Bhattacharya, P. K

    المصدر: Applied Physics Letters. 62(12)

    مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering

    URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19930065385

    Find this article in full text from Scitation.
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    تقرير
    Characterization of Si (sub X)Ge (sub 1-x)/Si Heterostructures for Device Applications Using Spectroscopic Ellipsometry

    المؤلفون: Sieg, R. M, Alterovitz, S. A, Croke, E. T, Harrell, M. J, Tanner, M, Wang, K. L, Mena, R. A, Young, P. G

    مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering, Instrumentation And Photography

    URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/20150021000

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    تقرير
    New technique for oil backstreaming contamination measurements

    المؤلفون: Alterovitz, S. A, Speier, H. J, Sieg, R. M, Drotos, M. N, Dunning, J. E

    المصدر: Journal of Vacuum Science and Technology A. 10(4)

    مصطلحات موضوعية: Instrumentation And Photography

    URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19930060517

    Find this article in full text from Scitation.
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء