-
1مؤتمر
المؤلفون: Penny, C., Motoyama, K., Ghosh, S., Bae, T., Lanzillo, N., Sieg, S., Park, C., Zou, L., Lee, H., Metzler, D., Lee, J., Cho, S., Shoudy, M., Nguyen, S., Simon, A., Park, K., Clevenger, L., Anderson, B., Child, C., Yamashita, T., Arnold, J., Wu, T., Spooner, T., Choi, K., Seo, K-I., Guo, D.
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :12.1.1-12.1.4 Dec, 2022
Relation: 2022 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Jagannathan, H., Anderson, B., Sohn, C-W., Tsutsui, G., Strane, J., Xie, R., Fan, S., Kim, K-I., Song, S., Sieg, S., Seshadri, I., Mochizuki, S., Wang, J., Rahman, A., Cheon, K-Y., Hwang, I., Demarest, J., Do, J., Fullam, J., Jo, G., Hong, B., Jung, Y., Kim, M., Kim, S., Lallement, R., Levin, T., Li, J., Miller, E., Montanini, P., Pujari, R., Osborn, C., Sankarapandian, M., Son, G-H., Waskiewicz, C., Wu, H., Yim, J., Young, A., Zhang, C., Varghese, A., Robison, R., Burns, S., Zhao, K., Yamashita, T., Dechene, D., Guo, D., Divakaruni, R., Wu, T., Seo, K-I., Bu, H.
المصدر: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :26.1.1-26.1.4 Dec, 2021
Relation: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Loubet, N., Hook, T., Montanini, P., Yeung, C.-W., Kanakasabapathy, S., Guillom, M., Yamashita, T., Zhang, J., Miao, X., Wang, J., Young, A., Chao, R., Kang, M., Liu, Z., Fan, S., Hamieh, B., Sieg, S., Mignot, Y., Xu, W., Seo, S.-C., Yoo, J., Mochizuki, S., Sankarapandian, M., Kwon, O., Carr, A., Greene, A., Park, Y., Frougier, J., Galatage, R., Bao, R., Shearer, J., Conti, R., Song, H., Lee, D., Kong, D., Xu, Y., Arceo, A., Bi, Z., Xu, P., Muthinti, R., Li, J., Wong, R., Brown, D., Oldiges, P., Robison, R., Arnold, J., Felix, N., Skordas, S., Gaudiello, J., Standaert, T., Jagannathan, H., Corliss, D., Na, M.-H., Knorr, A., Wu, T., Gupta, D., Lian, S., Divakaruni, R., Gow, T., Labelle, C., Lee, S., Paruchuri, V., Bu, H., Khare, M.
المصدر: 2017 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2017 Symposium on. :T230-T231 Jun, 2017
Relation: 2017 Symposium on VLSI Technology
-
4مؤتمر
المؤلفون: Guo, D., Karve, G., Tsutsui, G., Lim, K-Y, Robison, R., Hook, T., Vega, R., Liu, D., Bedell, S., Mochizuki, S., Lie, F., Akarvardar, K., Wang, M., Bao, R., Burns, S., Chan, V., Cheng, K., Demarest, J., Fronheiser, J., Hashemi, P., Kelly, J., Li, J., Loubet, N., Montanini, P., Sahu, B., Sankarapandian, M., Sieg, S., Sporre, J., Strane, J., Southwick, R., Tripathi, N., Venigalla, R., Wang, J., Watanabe, K., Yeung, C. W., Gupta, D., Doris, B., Felix, N., Jacob, A., Jagannathan, H., Kanakasabapathy, S., Mo, R., Narayanan, V., Sadana, D., Oldiges, P., Stathis, J., Yamashita, T., Paruchuri, V., Colburn, M., Knorr, A., Divakaruni, R., Bu, H., Khare, M.
المصدر: 2016 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2016 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2016
Relation: 2016 IEEE Symposium on VLSI Technology
-
5مؤتمر
المؤلفون: Xie, R., Montanini, P., Akarvardar, K., Tripathi, N., Haran, B., Johnson, S., Hook, T., Hamieh, B., Corliss, D., Wang, J., Miao, X., Sporre, J., Fronheiser, J., Loubet, N., Sung, M., Sieg, S., Mochizuki, S., Prindle, C., Seo, S., Greene, A., Shearer, J., Labonte, A., Fan, S., Liebmann, L., Chao, R., Arceo, A., Chung, K., Cheon, K., Adusumilli, P., Amanapu, H.P., Bi, Z., Cha, J., Chen, H.-C., Conti, R., Galatage, R., Gluschenkov, O., Kamineni, V., Kim, K., Lee, C., Lie, F., Liu, Z., Mehta, S., Miller, E., Niimi, H., Niu, C., Park, C., Park, D., Raymond, M., Sahu, B., Sankarapandian, M., Siddiqui, S., Southwick, R., Sun, L., Surisetty, C., Tsai, S., Whang, S., Xu, P., Xu, Y., Yeh, C., Zeitzoff, P., Zhang, J., Li, J., Demarest, J., Arnold, J., Canaperi, D., Dunn, D., Felix, N., Gupta, D., Jagannathan, H., Kanakasabapathy, S., Kleemeier, W., Labelle, C., Mottura, M., Oldiges, P., Skordas, S., Standaert, T., Yamashita, T., Colburn, M., Na, M., Paruchuri, V., Lian, S., Divakaruni, R., Gow, T., Lee, S., Knorr, A., Bu, H., Khare, M.
المصدر: 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2016 IEEE International. :2.7.1-2.7.4 Dec, 2016
Relation: 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Long, Chris M., Snapp, Sieg S., Douches, Dave S., Chase, Richard W.
المصدر: American Journal of Potato Research: The Official Journal of the Potato Association of America. September 2004 81(5):347-357
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.