يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Sim, Sunhwa"', وقت الاستعلام: 0.69s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Development for Electrical Fault Detection and Classification Analysis Model based on Machine Learning Algorithms

    المؤلفون: Kim, Junho, Sim, Sunhwa, Kim, Seokjun, Cho, Seokheon, Han, Changhee

    المصدر: 2024 IEEE Conference on Technologies for Sustainability (SusTech) Technologies for Sustainability (SusTech), 2024 IEEE Conference on. :50-56 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE Conference on Technologies for Sustainability (SusTech)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء