يعرض 1 - 10 نتائج من 74 نتيجة بحث عن '"Sitte, R."', وقت الاستعلام: 1.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Optimizing testing efficiency with error-prone path identification and genetic algorithms

    المؤلفون: Birt, J.R., Sitte, R.

    المصدر: 2004 Australian Software Engineering Conference. Proceedings. Software engineering conference Software Engineering Conference, 2004. Proceedings. 2004 Australian. :106-115 2004

    Relation: Proceedings. 2004 Australian Software Engineering Conference

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    A framework for quantifying error proneness in software

    المؤلفون: Sitte, R.

    المصدر: Proceedings First Asia-Pacific Conference on Quality Software Quality software Quality Software, 2000. Proceedings. First Asia-Pacific Conference on. :63-68 2000

    Relation: Proceedings First Asia-Pacific Conference on Quality Software

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Interactive teaching of elementary digital logic design with WinLogiLab

    المؤلفون: Hacker, C., Sitte, R.

    المصدر: IEEE Transactions on Education IEEE Trans. Educ. Education, IEEE Transactions on. 47(2):196-203 May, 2004

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Analysis of the predictive ability of time delay neural networks applied to the S&P 500 time series

    المؤلفون: Sitte, R., Sitte, J.

    المصدر: IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics, Part C (Applications and Reviews) IEEE Trans. Syst., Man, Cybern. C Systems, Man, and Cybernetics, Part C: Applications and Reviews, IEEE Transactions on. 30(4):568-572 Nov, 2000

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    3-D visualization of deep submicrometer transistor characteristics

    المؤلفون: Sitte, R.

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 13(2):249-254 May, 2000

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Comparison of software-reliability-growth predictions: neural networks vs parametric-recalibration

    المؤلفون: Sitte, R.

    المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 48(3):285-291 Sep, 1999

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Relaxation of acceptance limits (RAL): a global approach for parametric yield control of 0.1-/spl mu/m deep submicron MOSFET devices

    المؤلفون: Sitte, R., Dimitrijev, S., Harrison, H.B.

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 8(3):374-377 Aug, 1995

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Device parameter changes caused by manufacturing fluctuations of deep submicron MOSFET's

    المؤلفون: Sitte, R., Dimitrijev, S., Harrison, H.B.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 41(11):2210-2215 Nov, 1994

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    The effect of dynamic design processing for yield enhancement in the fabrication of deep sub-micron MOSFET's

    المؤلفون: Sitte, R., Dimitrijev, S., Harrison, H.B.

    المصدر: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 7(1):92-96 Feb, 1994

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Identifying error proneness in path strata with genetic algorithms

    المؤلفون: Birt, J.R., Sitte, R.

    المصدر: 12th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC'05) Asia-Pacific Software Engineering Conference Software Engineering Conference, 2005. APSEC '05. 12th Asia-Pacific. :8 pp. 2005

    Relation: Proceedings. 12th Asia-Pacific Software Engineering Conference

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء