المؤلفون: Segura, J., Keshavarzi, A., Soden, J., Hawkins, C.

المصدر: Proceedings. International Test Conference International test conference Test Conference, 2002. Proceedings. International. :90-99 2002

Relation: International Test Conference

المؤلفون: Alorda, B., Rosales, M., Soden, J., Hawkins, C., Segura, J.

المصدر: Proceedings. International Test Conference International test conference Test Conference, 2002. Proceedings. International. :947-953 2002

Relation: International Test Conference

المؤلفون: de Paul, I., Rosales, M., Alorda, B., Segura, J., Hawkins, C., Soden, J.

المصدر: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001 VLSI test symposium VLSI Test Symposium, 19th IEEE Proceedings on. VTS 2001. :286-291 2001

Relation: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001

المؤلفون: Rosales, M., de Paul, I., Segura, J., Hawkins, C.F., Soden, J.

المصدر: Proceedings 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing (Cat. No.PR00637) Defect based testing Defect Based Testing, 2000. Proceedings. 2000 IEEE International Workshop on. :57-61 2000

Relation: Proceedings 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing

المؤلفون: Hawkins, C.F., Segura, J., Soden, J., Dellin, T.

المصدر: IEEE Design & Test of Computers IEEE Des. Test. Comput. Design & Test of Computers, IEEE. 16(4):66-73 Jan, 1999

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Traut, R., Soden, J., Kurt, J., Chapman, G., Okura, G.

المصدر: OCEANS 82. :1265-1272 1982

Relation: 1982 OCEANS

المؤلفون: Soden, J., Eaton, R., Walsh, J.

المصدر: OCEANS 82. :587-595 1982

Relation: 1982 OCEANS

المؤلفون: Kortanek, K. O., Soden, J. V., Sodaro, D.

المصدر: Management Science, 1973 Nov 01. 20(3), 396-417.

URL الوصول: https://www.jstor.org/stable/2629731

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.