-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6
المؤلفون: A. Tosser, C. Tellier
المصدر: Revue de Physique Appliquée
Revue de Physique Appliquée, Société française de physique / EDP, 1978, 13 (9), pp.441-447. ⟨10.1051/rphysap:01978001309044100⟩مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Sondheimer model, thin metallic films, size effect conductivity, Fuchs theory, Hall effect, metallic thin films, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, electronic conduction in metallic thin films, 01 natural sciences, Hall coefficient, resistivity, transverse magnetic field, temperature coefficient, size effect, [PHYS.HIST]Physics [physics]/Physics archives, 0103 physical sciences, 0210 nano-technology
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::73743ca26f3af1bf0b2b1fd89cda6826
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00244473/document