-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Yu, C., He, Z.Z., Zhou, C.J., Guo, J.C., Song, X.B., Cai, S.J. *, Feng, Z.H. *
المصدر: In Materials Today Communications September 2021 28
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Yu, C., He, Z.Z., Song, X.B., Liu, Q.B., Han, T.T., Dun, S.B., Wang, J.J., Zhou, C.J., Guo, J.C., Lv, Y.J., Feng, Z.H., Cai, S.J.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 38(9):1339-1342 Sep, 2017
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Yu, C., He, Z.Z., Liu, Q.B., Song, X.B., Xu, P., Han, T.T., Li, J., Feng, Z.H., Cai, S.J.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 37(5):684-687 May, 2016
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Feng, Z.H., Yu, C., Li, J., Liu, Q.B., He, Z.Z., Song, X.B., Wang, J.J., Cai, S.J.
المصدر: In Carbon August 2014 75:249-254
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Wang, J.J., He, Z.Z., Yu, C., Song, X.B., Xu, P., Zhang, P.W., Guo, H., Liu, J.L., Li, C.M., Cai, S.J., Feng, Z.H.
المصدر: In Diamond & Related Materials March 2014 43:43-48
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Zhong, X.Y., Wu, X.Q., Han, E.H., Song, X.B.
المصدر: In Engineering Failure Analysis 2010 17(6):1404-1412
-
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9كتاب
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.