المؤلفون: Sadana, D. K., Cheng, C.-W., Wacaser, B., Spratt, W., Shiu, K.T., Bedell, S.W.

المصدر: 2015 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2015 IEEE. :1-6 Sep, 2015

Relation: 2015 IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC 2015

المؤلفون: Lee, S., Cheng, C. -W., Sun, X., D'Emic, C., Miyazoe, H., Frank, M. M., Lofaro, M., Bruley, J., Hashemi, P., Ott, J. A., Ando, T., Spratt, W., Cohen, G. M., Lavoie, C., Bruce, R., Patel, J., Schmid, H., Czornomaz, L., Narayanan, V., Mo, R.T., Leobandung, E.

المصدر: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2018 IEEE International. :39.5.1-39.5.4 Dec, 2018

Relation: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Sun, X., D'Emic, C., Cheng, C.-W., Majumdar, A., Sun, Y., Cartier, E., Bruce, R. L., Frank, M., Miyazoe, H., Shiu, K.-T., Lee, S., Rozen, J., Patel, J., Ando, T., Song, W.-B., Lofaro, M., Krishnan, M., Obrodovic, B., Lee, K.-T., Tsai, H., Wang, W.-E., Spratt, W., Chan, K., Yau, J.-B., Hashemi, P., Khojasteh, M., Cantoro, M., Ott, J., Rakshit, T., Zhu, Y., Sadana, D., Yeh, C.-C., Narayanan, V., Mo, R. T., Heo, Y.-C., Kim, D.-W., Rodder, M. S., Leobandung, E.

المصدر: 2017 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2017 Symposium on. :T40-T41 Jun, 2017

Relation: 2017 Symposium on VLSI Technology

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.