المؤلفون: Nahmsuk Oh, Kapur, R., Williams, T.W., Sproch, J.

المصدر: 2003 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition Design, automation and test in Europe Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, 2003. :110-115 2003

Relation: 6th Design Automation and Test in Europe (DATE 03)

المؤلفون: Munch, M., Wurth, B., Mehra, R., Sproch, J., Wehn, N.

المصدر: Proceedings Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2000 (Cat. No. PR00537) Design automation and test in Europe Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition 2000. Proceedings. :624-631 2000

Relation: Proceedings of Meeting on Design Automation and Test in Europe

المؤلفون: Sproch, J.

المصدر: 2004 International Conferce on Test International test conference Test Conference, 2004. Proceedings. ITC 2004. International. :1437 2004

Relation: Proceedings. International Test Conference 2004

المؤلفون: Sproch, J., Howells, M., Rajski, J.

المصدر: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002) VLSI test symposium VLSI Test Symposium, 2002. (VTS 2002). Proceedings 20th IEEE. :43-43 2002

Relation: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.