-
1مؤتمر
المؤلفون: Burns, John, Hsieh, Yee-Hsee, Mueller, Andrew, Chevallier, Juliette, Sriram, T.S., Lewis, Stephen J., Chew, Daniel, Achyuta, Anil, Fiering, Jason
المصدر: 2016 38th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC) Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC), 2016 IEEE 38th Annual International Conference of the. :2802-2805 Aug, 2016
Relation: 2016 38th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Cohen, N., Sriram, T.S., Leland, N., Moyer, D., Butler, S., Flatley, R.
المصدر: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) Electron devices Electron Devices Meeting, 1999. IEDM '99. Technical Digest. International. :315-318 1999
Relation: International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest
-
3مؤتمر
المؤلفون: Atakov, E.M., Sriram, T.S., Dunnell, D., Pizzanello, S.
المصدر: 1998 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 36th Annual (Cat. No.98CH36173) Reliability physics Reliability Physics Symposium Proceedings, 1998. 36th Annual. 1998 IEEE International. :348-355 1998
Relation: 1998 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings 36th Annual
-
4مؤتمر
المؤلفون: Sriram, T.S.
المصدر: ICMTS 2000. Proceedings of the 2000 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.00CH37095) Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2000. ICMTS 2000. Proceedings of the 2000 International Conference on. :155-157 2000
Relation: ICMTS 2000. Proceedings of the 2000 International Conference on Microelectronic Test Structures
-
5مؤتمر
المؤلفون: Rafferty, C., King, C., Ackland, B., O'Neill, J., Aberg, I., Sriram, T.S., Mackay, A., Johnson, R.
المصدر: 2008 IEEE Conference on Technologies for Homeland Security Technologies for Homeland Security, 2008 IEEE Conference on. :577-582 May, 2008
Relation: 2008 IEEE Conference on Technologies for Homeland Security
-
6دورية
المؤلفون: Sriram, T.S., Ke, Chin-Ming, Chung, Y.W.
المصدر: Acta Metallurgica et Materialia; August 1993, Vol. 41 Issue: 8 p2515-2521, 7p
-
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.