المؤلفون: Monga, Udit, Gogineni, Usha, Hetzel, Ines, Jin, Chong, Steinmair, Alexander

المصدر: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024 8th IEEE. :1-3 Mar, 2024

Relation: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)

المؤلفون: Stefanucci, Camillo, Buccella, Pietro, Seebacher, Ehrenfried, Steinmair, Alexander, Kayal, Maher, Sallese, Jean Michel

المصدر: 2016 46th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016 46th European. :319-322 Sep, 2016

Relation: ESSDERC 2016 - 46th European Solid-State Device Research Conference

المؤلفون: Moursy, Yasser, Zou, Hao, Iskander, Ramy, Tisserand, Pierre, Ton, Dieu-My, Pasetti, Giuseppe, Seebacher, Ehrenfried, Steinmair, Alexander, Gneiting, Thomas, Alius, Heidrun

المصدر: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016. :265-268 Mar, 2016

Relation: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

المؤلفون: Zou, Hao, Moursy, Yasser, Iskander, Ramy, Chaput, Jean-Paul, Louerat, Marie-Minerve, Stefanucci, Camillo, Buccela, Pietro, Kayal, Maher, Sallese, Jean-Michel, Gneiting, Thomas, Alius, Heidrun, Steinmair, Alexander, Seebacher, Ehrenfried

المصدر: 2015 IEEE 20th International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW) Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW), 2015 20th International. :1-6 Jun, 2015

Relation: 2015 20th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW)

المؤلفون: Schoenmaker, Wim^Aff1_41, Meuris, Peter^Aff1_41, Pflanzl, Walter^Aff2_41, Steinmair, Alexander^Aff2_41

المساهمون: Roos, Janne, editor^AffID1, Costa, Luis R.J., editor^AffID2

المصدر: Scientific Computing in Electrical Engineering SCEE 2008. 14:321-332

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المؤلفون: Moursy, Yasser, Afara, Sahar, Buccella, Pietro, Stefanucci, Camillo, Iskander, Ramy, Kayal, Maher, Sallese, Jean-Michel, Louërat, Marie-Minerve, Chaput, Jean-Paul, Thomas Tomasevic , Marc Veljko, Ben Dhia, Sonia, Boyer, Alexandre, Guegan, Bruno, Poletto, Vanni, Roggero, Andrea, Cavioni, Tiziana, Novarini, Enrico, Seebacher, Ehrenfried, Steinmair, Alexander, Tisserand, Pierre, Ton, Dieu-My, Bousquet, Thierry, Gneiting, Thomas

المساهمون: Circuits Intégrés Numériques et Analogiques (CIAN), Laboratoire d'Informatique de Paris 6 (LIP6), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), STMicroelectronics [Rousset] (ST-ROUSSET), AMS - Austria Mikro Systeme Int. AG, Valeo Electrical Systems, VALEO, Continental, Admos, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1)

المصدر: 18th IEEE European Test Symposium
18th IEEE European Test Symposium, May 2013, Avignon, France

مصطلحات موضوعية: Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::15d93d21e7435c095cc83f9c9c98a63e
https://hal.science/hal-01078755