-
1مؤتمر
المؤلفون: Gabunas, C.B., Abitan, F.F., Stierman, R.J.
المصدر: Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Proceedings of the 12th International Symposium on the. :114-117 2005
Relation: Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
-
2مؤتمر
المؤلفون: Heinen, G., Stierman, R.J., Edwards, D., Nye, L.
المصدر: 1994 Proceedings. 44th Electronic Components and Technology Conference Electronic components and technology Electronic Components and Technology Conference, 1994. Proceedings., 44th. :922-928 1994
Relation: 1994 Proceedings. 44th Electronic Components and Technology Conference
-
3مؤتمر
المؤلفون: Heinen, K.G., Schroen, W.H., Edwards, D.R., Wilson, A.M., Stierman, R.J., Lamson, M.A.
المصدر: Proceedings., 39th Electronic Components Conference Electronic Components Conference, 1989. Proceedings., 39th. :672-680 1989
Relation: Proceedings 39th Electronic Components Conference
-
4مؤتمر
المؤلفون: Malhi, S.D.S., Davis, H.E., Stierman, R.J., Bean, K.E., Driscoll, C.C., Chatterjee, P.K.
المصدر: 1987 International Electron Devices Meeting IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting, 1987 International. :104-106 1987
Relation: International Electron Devices Meeting 1987
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.