المؤلفون: Gabunas, C.B., Abitan, F.F., Stierman, R.J.

المصدر: Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005. IPFA 2005. Proceedings of the 12th International Symposium on the. :114-117 2005

Relation: Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

المؤلفون: Heinen, G., Stierman, R.J., Edwards, D., Nye, L.

المصدر: 1994 Proceedings. 44th Electronic Components and Technology Conference Electronic components and technology Electronic Components and Technology Conference, 1994. Proceedings., 44th. :922-928 1994

Relation: 1994 Proceedings. 44th Electronic Components and Technology Conference

المؤلفون: Heinen, K.G., Schroen, W.H., Edwards, D.R., Wilson, A.M., Stierman, R.J., Lamson, M.A.

المصدر: Proceedings., 39th Electronic Components Conference Electronic Components Conference, 1989. Proceedings., 39th. :672-680 1989

Relation: Proceedings 39th Electronic Components Conference

المؤلفون: Malhi, S.D.S., Davis, H.E., Stierman, R.J., Bean, K.E., Driscoll, C.C., Chatterjee, P.K.

المصدر: 1987 International Electron Devices Meeting IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting, 1987 International. :104-106 1987

Relation: International Electron Devices Meeting 1987

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.