المؤلفون: Breuil, L., Izmailov, R., Popovici, M., Stiers, J., Arreghini, A., Ramesh, S., Van Den Bosch, G., Van Houdt, J., Rosmeulen, M.

المصدر: 2024 IEEE International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2024 IEEE International. :1-4 May, 2024

Relation: 2024 IEEE International Memory Workshop (IMW)

المؤلفون: Tiernc, D., Arreghini, A., Lesniewska, A., Jeong, Y., van der Veen, M. H., Stiers, J., Bazzazian, N., Ciofi, I., Van den Bosch, G., Rosmeulen, M.

المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-5 Apr, 2024

Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Breuil, L., Popovici, M., Stiers, J., Arreghini, A., Ramesh, S., Bosch, G. Van Den, Houdt, J. Van, Rosmeulen, M.

المصدر: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2023 IEEE International. :1-4 May, 2023

Relation: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW)

المؤلفون: Banerjee, K., Breuil, L., Milenin, A.P., Pak, M., Stiers, J., McMitchell, S. R. C., Di Piazza, L., van den bosch, G., van Houdt, J.

المصدر: 2021 IEEE International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2021 IEEE International. :1-4 May, 2021

Relation: 2021 IEEE International Memory Workshop (IMW)

المؤلفون: Ramesh, S., Palayam, S. Vadakupudhu, Rosseel, E., Arreghini, A., Kunert, B., Baryshnikova, M., Zhang, L., Ong, P., Teugels, L., Pak, M., Jossart, N., Raymaekers, T., Stiers, J., Van den Bosch, G., Furnemont, A.

المصدر: 2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW) Memory Workshop (IMW), 2019 IEEE 11th International. :1-4 May, 2019

Relation: 2019 IEEE 11th International Memory Workshop (IMW)

المؤلفون: Ajaykumar, A., Breuil, L., Katcko, K., Schleicher, F., Sebaai, F., Oniki, Y., Ramesh, S., Arreghini, A., Nyns, L., Soulie, J. -P., Stiers, J., den Bosch, G. Van, Rosmeulen, M.

المصدر: 2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021

Relation: 2021 Symposium on VLSI Technology

المؤلفون: Ramesh, S., Palayam, S. Vadakupudhu, Ajaykumar, A., Opsomer, K., Bastos, J., Ragnarsson, L.-A., Breuil, L., Arreghini, A., Wouters, L., Spampinato, V., Favia, P., Mehta, A. Nalin, Carolan, P., Nyns, L., Katcko, K., Stiers, J., Van den bosch, G., Rosmeulen, M.

المصدر: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :10.2.1-10.2.4 Dec, 2021

Relation: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.