المؤلفون: Freudlich, A., Grenet, J.C., Neu, G., Stobl, G.

المصدر: Applied Physics Letters; 12/30/1991, Vol. 59 Issue 27, p3568, 3p, 1 Chart, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: RESIDUAL stresses, GALLIUM arsenide, X-ray diffraction

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.