يعرض 1 - 10 نتائج من 9,342 نتيجة بحث عن '"Stress Measurement"', وقت الاستعلام: 0.92s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Song, X., Xiao, K., Xu, W.

    المصدر: IEEE Sensors Letters IEEE Sens. Lett. Sensors Letters, IEEE. 8(8):1-4 Aug, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Jaikissoon, M., Pop, E., Saraswat, K.C.

    المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 45(8):1528-1531 Aug, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-6 Aug, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-4 Aug, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-5 Aug, 2024

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-4 Aug, 2024

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Gu, B., Bae, I., Park, D., Choi, B.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(7):4411-4414 Jul, 2024

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Biomedical and Health Informatics IEEE J. Biomed. Health Inform. Biomedical and Health Informatics, IEEE Journal of. 28(7):3965-3972 Jul, 2024

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Meidiana, A., Hong, S., Eades, P., Keim, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics IEEE Trans. Visual. Comput. Graphics Visualization and Computer Graphics, IEEE Transactions on. 30(7):3241-3255 Jul, 2024

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Waltl, M., Stampfer, B., Grasser, T.

    المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 24(2):168-173 Jun, 2024