يعرض 1 - 10 نتائج من 2,358 نتيجة بحث عن '"Structured illumination microscopy"', وقت الاستعلام: 1.42s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Liu, T., Liu, J., Li, D., Tan, S.

    المصدر: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics IEEE J. Select. Topics Quantum Electron. Selected Topics in Quantum Electronics, IEEE Journal of. 29(6: Photonic Signal Processing):1-12 Jan, 2023

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Photonics Technology Letters IEEE Photon. Technol. Lett. Photonics Technology Letters, IEEE. 35(19):1023-1026 Oct, 2023

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics IEEE J. Select. Topics Quantum Electron. Selected Topics in Quantum Electronics, IEEE Journal of. 29(4: Biophotonics):1-9 Aug, 2023

  4. 4
    مؤتمر

    المصدر: 2022 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) Image Processing (ICIP), 2022 IEEE International Conference on. :3211-3215 Oct, 2022

    Relation: 2022 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP)

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-13 2023

  6. 6
    كتاب إلكتروني

    المؤلفون: Chen, XinAff2, Aff3, Wang, WenyiAff2, Aff3, Li, MeiqiAff4, Xi, PengAff2, Aff3

    المساهمون: Liang, Jinyang, editorAff1

    المصدر: Coded Optical Imaging. :631-665

  7. 7
  8. 8
    مؤتمر

    المصدر: 2022 IEEE Photonics Conference (IPC) Photonics Conference (IPC), 2022 IEEE. :1-2 Nov, 2022

    Relation: 2022 IEEE Photonics Conference (IPC)

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Cheng, X., Li, J., Dai, Q., Fu, Z., Yang, J.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 71:1-11 2022

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Liu, L., Tang, Y., Wei, H., He, Y., Hu, S.

    المصدر: IEEE Photonics Technology Letters IEEE Photon. Technol. Lett. Photonics Technology Letters, IEEE. 33(19):1097-1100 Oct, 2021