-
1تقرير
المؤلفون: Llorca, David Fernández, Hamon, Ronan, Junklewitz, Henrik, Grosse, Kathrin, Kunze, Lars, Seiniger, Patrick, Swaim, Robert, Reed, Nick, Alahi, Alexandre, Gómez, Emilia, Sánchez, Ignacio, Kriston, Akos
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computers and Society, Computer Science - Artificial Intelligence, Computer Science - Machine Learning
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2403.14641
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Izuora, Kenneth, Swaim, Robert, Delcid, Nancy
المصدر: In Endocrine Practice May 2024 30(5) Supplement:S59-S59
-
3تقرير
المؤلفون: Fox, Robert L, Johnson, Samuel D, Copeland, Carl E, Coultrip, Robert H, Phillips, W. Morris, Johnston, David F, Swaim, Robert J, Dinkins, James R
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19950012547
-
4تقرير
المؤلفون: Fox, Robert L, Copeland, Carl E, Swaim, Robert J, Coultrip, Robert H, Johnston, David F, Phillips, W. Morris, Johnson, Samuel D, Dinkins, James R, Buckley, John D
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19950007880
-
5تقرير
المؤلفون: Fox, Robert L, Swaim, Robert J, Johnson, Samuel D, Coultrip, Robert H, Phillips, W. Morris, Copeland, Carl E
المصدر: NASA Tech Briefs. 18(5)
مصطلحات موضوعية: Fabrication Technology
URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19940000277
-
6تقرير
المؤلفون: Fox, Robert L, Swaim, Robert J, Johnson, Samuel D, Buckley, John D, Copeland, Carl E, Coultrip, Robert H, Johnston, David F, Phillips, William M
المصدر: NASA Tech Briefs. 16(12)
مصطلحات موضوعية: Fabrication Technology
URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19920000767
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Swaim, Robert E., Weber, William P., Boettger, Heinz G., Evans, Margaret, Bockhoff, Frank M.
المصدر: Organic Mass Spectrometry; 1980, Vol. 15 Issue 6, p304-311, 8p
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.