-
1
المؤلفون: E. Asano, K. Ikeda, S. Tezuka, T. Hanada, Shunpei Yamazaki, T. Kakehata, R. Motoyoshi, M. Kurata, T. Murakawa, T. Takeuchi, H. Sawai
المصدر: Extended Abstracts of the 2019 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, Reliability (statistics), Reliability engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::16dea07f3341a785236a56c89f96da66
https://doi.org/10.7567/ssdm.2019.g-5-01 -
2
المؤلفون: Y. Okazaki, S. Okamoto, M. Tsubuku, Y. Yakubo, Y. Yamamoto, A. Shimomura, T. Kakehata, Y. Asami, D. Matsubayashi, S. Yamazaki, S. Sasagwa, T. Moriwaka, M. Kurata, Kiyoshi Kato
المصدر: Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Process (computing), Optoelectronics, Node (circuits), Field-effect transistor, business, Trench gate
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ce138201e83fd5950571582ebad6ce8
https://doi.org/10.7567/ssdm.2015.m-6-4 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.