-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: J. Zhang, J. Reif, C. Strobel, P. Chava, A. Erbe, A. Voigt, T. Mikolajick, R. Kirchner
المصدر: Micro and Nano Engineering, Vol 19, Iss , Pp 100179- (2023)
مصطلحات موضوعية: Self assembly, Origami, 3D, EMS/NEMS, Etching, Dielectric, Electronics, TK7800-8360, Technology (General), T1-995
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: R. Fontanini, J. Barbot, M. Segatto, S. Lancaster, Q. Duong, F. Driussi, L. Grenouillet, L. Triozon, J. Coignus, T. Mikolajick, S. Slesazeck, D. Esseni
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 593-599 (2022)
مصطلحات موضوعية: Ferroelectric tunnel junction, FTJ, HZO, synaptic memristor, charge trapping, interfacial charge, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: R. Alcala, M. Materano, P. D. Lomenzo, L. Grenouillet, T. Francois, J. Coignus, N. Vaxelaire, C. Carabasse, S. Chevalliez, F. Andrieu, T. Mikolajick, U. Schroeder
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 907-912 (2022)
مصطلحات موضوعية: BEOL, ferroelectric, HfO₂, reliability, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: T. Scheinert, T. Mikolajick, S. Schmult
المصدر: AIP Advances, Vol 9, Iss 12, Pp 125018-125018-4 (2019)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2158-3226
-
5
المؤلفون: M. Massarotto, M. Segatto, F. Driussi, A. Affanni, S. Lancaster, S. Slesazeck, T. Mikolajick, D. Esseni
المصدر: 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::eeb2559a6bd56c0a8a30ed9e0babca9b
https://doi.org/10.1109/icmts55420.2023.10094178 -
6
المؤلفون: T. Francois, J. Coignus, A. Makosiej, B. Giraud, C. Carabasse, J. Barbot, S. Martin, N. Castellani, T. Magis, H. Grampeix, S. Van Duijn, C. Mounet, P. Chiquet, U. Schroeder, S. Slesazeck, T. Mikolajick, E. Nowak, M. Bocquet, N. Barrett, F. Andrieu, L. Grenouillet
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 69:2108-2114
-
7
المؤلفون: R. Alcala, P.D. Lomenzo, T. Mittmann, B. Xu, R. Guido, S. Lancaster, P. Vishnumurthy, L. Grenouillet, S. Martin, J. Coignus, T. Mikolajick, U. Schroeder
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::47fce1bb648504e36a684cb4944aed01
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019554 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.