-
1
المؤلفون: M. Endo, S. Numata, K. Ohshima, Y. Egi, F. Isaka, T. Ohno, S. Tezuka, T. Hamada, K. Furutani, K. Tsuda, T. Matsuzaki, T. Onuki, T. Murakawa, H. Kunitake, M. Kobayashi, S. Yamazaki
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::af173ed46fe9de1d4652cffc60f90d3b
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019506 -
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7
المؤلفون: H. Baba, S. Ohshita, T. Hamada, Y. Ando, R. Hodo, T. Ono, T. Hirose, Y. Kurokawa, T. Murakawa, H. Kunitake, T. Nakura, M. Kobayashi, H. Yoshida, M.-C. Chen, M.-H. Liao, S.-Z. Chang, S. Yamazaki
المصدر: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::57972320b1a90e7b1978fb30f4add90d
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9721312 -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.