المؤلفون: Tao Xu, Yannick Lambert, Bruno Grandidier, C. Coinon, N. A. Franchina Vergel, Christophe Delerue, Guillaume Fleury, C. Post, Xavier Wallart, Daniel Vanmaekelbergh, Dmitri A. Yarekha, T.S. Kulmala, François Vaurette, Ludovic Desplanque

المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN (CMNF - IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Physique - IEMN (PHYSIQUE - IEMN), EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN (EPIPHY - IEMN), This work was supported by the French National Research Agency (ANR-16-CE24-0007-01 Dirac III-V), the RENATECH network, the H2020 program (ERC Advanced Grant 692691-'FIRST STEP'), the Dutch Research Council (NWO Chemistry - Toppunt 'Superficial superstructures') and the Natural Science Foundation of Shanghai (19ZR1419500)., Renatech Network, PCMP PCP, ANR-16-CE24-0007,Dirac-III-V,Super-réseau d'antipoints de Dirac pour les électrons dans les semiconducteurs III-V(2016), European Project: FIRST STEP, Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA)

المصدر: 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021
5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021, Apr 2021, Chengdu, China. pp.1-3, ⟨10.1109/EDTM50988.2021.9420884⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Lithography, III-V semiconductors, InGaAs, Scattering, Condensed Matter::Materials Science, [SPI]Engineering Sciences [physics], Lattice constant, honeycomb, Lattice (order), Honeycomb, Physics::Atomic Physics, Quantum well, In0.53Ga0.47As, business.industry, Nanoperforation, Conical surface, Lattices, Condensed Matter::Mesoscopic Systems and Quantum Hall Effect, Semiconductor, Quantum wells, Optoelectronics, two-dimensional lattices, business, Thermal scanning probe lithography

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2a960173b54bf4e920945d8b643aa752
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03261329

المؤلفون: A.A. Lagatsky, Z. Sun, T.S. Kulmala, R.S. Sundaram, S. Milana, F. Torrisi, O.L. Antipov, Y. Lee, J.H. Ahn, C. T. A Brown, W. Sibbett, A. C. Ferrari

المصدر: Applied Physics Letters 102, 013113.

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=erc_________::76ed2f17d9022c053d0a3554f540dd10

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.