-
1
المؤلفون: Tao Xu, Yannick Lambert, Bruno Grandidier, C. Coinon, N. A. Franchina Vergel, Christophe Delerue, Guillaume Fleury, C. Post, Xavier Wallart, Daniel Vanmaekelbergh, Dmitri A. Yarekha, T.S. Kulmala, François Vaurette, Ludovic Desplanque
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN (CMNF - IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Physique - IEMN (PHYSIQUE - IEMN), EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN (EPIPHY - IEMN), This work was supported by the French National Research Agency (ANR-16-CE24-0007-01 Dirac III-V), the RENATECH network, the H2020 program (ERC Advanced Grant 692691-'FIRST STEP'), the Dutch Research Council (NWO Chemistry - Toppunt 'Superficial superstructures') and the Natural Science Foundation of Shanghai (19ZR1419500)., Renatech Network, PCMP PCP, ANR-16-CE24-0007,Dirac-III-V,Super-réseau d'antipoints de Dirac pour les électrons dans les semiconducteurs III-V(2016), European Project: FIRST STEP, Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)-Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA)
المصدر: 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021
5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference, EDTM 2021, Apr 2021, Chengdu, China. pp.1-3, ⟨10.1109/EDTM50988.2021.9420884⟩مصطلحات موضوعية: Materials science, Lithography, III-V semiconductors, InGaAs, Scattering, Condensed Matter::Materials Science, [SPI]Engineering Sciences [physics], Lattice constant, honeycomb, Lattice (order), Honeycomb, Physics::Atomic Physics, Quantum well, In0.53Ga0.47As, business.industry, Nanoperforation, Conical surface, Lattices, Condensed Matter::Mesoscopic Systems and Quantum Hall Effect, Semiconductor, Quantum wells, Optoelectronics, two-dimensional lattices, business, Thermal scanning probe lithography
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2a960173b54bf4e920945d8b643aa752
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03261329 -
2
المؤلفون: A.A. Lagatsky, Z. Sun, T.S. Kulmala, R.S. Sundaram, S. Milana, F. Torrisi, O.L. Antipov, Y. Lee, J.H. Ahn, C. T. A Brown, W. Sibbett, A. C. Ferrari
المصدر: Applied Physics Letters 102, 013113.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=erc_________::76ed2f17d9022c053d0a3554f540dd10
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.