المؤلفون: L. Frangou, I. Joumard, K. Akmaldinov, Vincent Baltz, Bernard Dieny, Clarisse Ducruet

المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), CROCUS Technology

المصدر: 20th International Conference on Magnetism ICM
20th International Conference on Magnetism ICM, 2015, Barcelona, Spain. pp.1058-1065, ⟨10.1016/j.phpro.2015.12.175⟩

مصطلحات موضوعية: volume, Materials science, Spins, Spintronics, Condensed matter physics, Context (language use), Physics and Astronomy(all), TA-MRAM, Exchange bias, Ferromagnetism, exchange bias, blocking temperature distribution, interface, Antiferromagnetism, Thermal stability, [PHYS.COND]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat], Diffusion (business)

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6a41d13a70eb06744e099f321a2f6a7d
https://doi.org/10.1016/j.phpro.2015.12.175

المؤلفون: Demolliens, Antoine

المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU), Université du Sud Toulon Var, Christophe Muller, Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université du Sud Toulon Var, 2009. Français
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université du Sud Toulon Var, 2009. Français. ⟨NNT : ⟩

مصطلحات موضوعية: développement de procédés de fabrication, métrologie de couches minces, microscopie électronique en transmission, analyse physique de défaillances, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, TA-MRAM, CuTCNQ, EEPROM, SQeRAM

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fd4b7007fb87e3bf65b0d78345dbd851
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00646295/document

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