المؤلفون: Hu, Yu-Pang, Chang, Shuo-Wen, Wu, Kai-Chiang, Wang, Chi Chun, Huang, Fu-Sheng, Tang, Yi-Lun, Chen, Yung-Chen, Chen, Ming-Chien, Chao, Mango C.-T.

المصدر: 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2020 IEEE International. :106-111 Sep, 2020

Relation: 2020 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia)

المؤلفون: Chen, Yen-Hao, Tang, Yi-Lun, Liu, Yi-Yu, Wu, Allen C.-H., Hwang, TingTing

المصدر: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2016. :79-84 Mar, 2016

Relation: 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.