يعرض 1 - 10 نتائج من 25 نتيجة بحث عن '"Tangyunyong, Paiboon"', وقت الاستعلام: 0.98s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Stress factor assessment for microsystems-enabled photovoltaics

    المؤلفون: Yang, Benjamin B., Cruz-Campa, Jose L., Haase, Gaddi S., Tangyunyong, Paiboon, Okandan, Murat, Nielson, Gregory N.

    المصدر: 2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC) Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2014 IEEE 40th. :1305-1309 Jun, 2014

    Relation: 2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Fault localization and failure modes in microsystems-enabled photovoltaic devices

    المؤلفون: Yang, Benjamin B., Cruz-Campa, Jose L., Haase, Gaddi S., Tangyunyong, Paiboon, Cole, Edward I., Pimentel, Alejandro A., Resnick, Paul J., Okandan, Murat, Nielson, Gregory N.

    المصدر: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International. :4B.2.1-4B.2.5 Apr, 2013

    Relation: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Characterization of electrically-active defects in ultraviolet light-emitting diodes with laser-based failure analysis techniques.

    المؤلفون: Miller, Mary A., Tangyunyong, Paiboon, Cole Jr., Edward I.

    المصدر: Journal of Applied Physics; 2016, Vol. 119 Issue 2, p024505-1-024505-6, 6p

    مصطلحات موضوعية: LIGHT emitting diodes, STRENGTH of materials, LIGHT, MAGNETIC fields, PHYSICS

    Find this article in full text from Scitation.
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Thermal modeling of localized laser heating in multi-level interconnects

    المؤلفون: Tangyunyong, Paiboon

    المصدر: In Microelectronics Reliability 2003 43(2):297-305

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Local thermal probing to detect open and shorted IC interconnections

    المؤلفون: Cole, Edward I., Jr. *, Tangyunyong, Paiboon, Barton, Daniel L.

    المصدر: In Microelectronics Reliability 1999 39(5):681-693

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Frequency dependence of the lifetime of a surface micromachined microengine driving a load

    المؤلفون: Tanner, Danelle M *, Miller, William M, Peterson, Ken A, Dugger, Michael T, Eaton, William P, Irwin, Lloyd W, Senft, Donna C, Smith, Norman F, Tangyunyong, Paiboon, Miller, Samuel L

    المصدر: In Microelectronics Reliability 1999 39(3):401-414

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Electrostatic discharge/electrical overstress susceptibility in MEMS: a new failure mode.

    المؤلفون: Walraven, Jeremy A., Soden, Jerry M., Tanner, Danelle M., Tangyunyong, Paiboon, Cole Jr., Edward I., Anderson, Richard E., Irwin, Lloyd W.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2000, Issue 1, p30-39, 10p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Linkage design effect on the reliability of surface-micromachined microengines driving a load.

    المؤلفون: Tanner, Danelle M., Peterson, Kenneth A., Irwin, Lloyd W., Tangyunyong, Paiboon, Miller, William M., Eaton, William P., Smith, Norman F., Rodgers, M. Steven

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1998 Part 2, Issue 1, p215-226, 12p

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Failure analysis of surface-micromachined microengines.

    المؤلفون: Peterson, Kenneth A., Tangyunyong, Paiboon, Pimentel, Alejandro A.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov1998, Issue 1, p190-200, 11p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء