-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Enisherlova, K. L.Aff1, Temper, E. M., Kolkovsky, Yu. V., Medvedev, B. K., Kapilin, S. A.
المصدر: Russian Microelectronics. 49(8):603-611
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Enisherlova, K. L.Aff1, Medvedev, B. K., Temper, E. M., Korneev, V. I.
المصدر: Russian Microelectronics. 48(8):564-575
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Lutzau, A. V., Temper, E. M., Enisherlova, K. L.Aff1
المصدر: Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 13(4):578-585
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Enisherlova, K. L.Aff1, Kolkovskii, Yu. V., Bobrova, E. A., Temper, E. M., Kapilin, S. A.
المصدر: Russian Microelectronics. 48(1):28-36
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Enisherlova, K. L., Goryachev, V. G., Temper, E. M., Kapilin, S. A.
المصدر: Russian Microelectronics. December 2015 44(8):537-545
-
6دورية أكاديمية
المصدر: Russian Microelectronics. December 2013 42(8):517-524
-
7دورية أكاديمية
المصدر: Russian Microelectronics. December 2011 40(8):641-648
-
8مؤتمر
المؤلفون: Enisherlova, K. L., Gulyaev, I. B., Goryachev, V. G., Dorofeev, A. U., Temper, E. M., Gladisheva, N. B.
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p702514-702514-8, 8p
-
9مؤتمر
المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2008, Issue 1, p702518-702518-8, 8p
-
10دورية
المؤلفون: Borun, A. F., Danilin, A. B., Mordkovich, V. N., Temper, E. M.
المصدر: Radiation Effects and Defects in Solids; August 1988, Vol. 107 Issue: 1 p9-13, 5p