-
1دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 6, Pp 551-556 (2018)
مصطلحات موضوعية: UTBB, U-channel, TCAD, multiple thresholds, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: Xiaobin Yuan, Jae-Eun Park, Jin Wang, Enhai Zhao, David Ahlgren, Terence Hook, Jun Yuan, Victor Chan, Huiling Shang, Chu-Hsin Liang, Richard Lindsay, Sungjoon Park, Hyotae Choo
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability.
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, Electronic, Optical and Magnetic Materials
-
3
المؤلفون: P.K. Aum, Thuy B. Dao, S. Alba, Koji Eriguchi, Terence Hook
المصدر: 2003 8th International Symposium Plasma- and Process-Induced Damage..
مصطلحات موضوعية: Semiconductor industry, Engineering, Semiconductor technology, Semiconductor device fabrication, business.industry, Computer-aided manufacturing, business, Integrated circuit layout, Manufacturing engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::beefc1188bcd0320e0d0fd35decacd9b
https://doi.org/10.1109/ppid.2003.1200934 -
4مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.