يعرض 1 - 3 نتائج من 3 نتيجة بحث عن '"Toublan, Olivier R."', وقت الاستعلام: 0.73s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Detailed process analysis for sub-resolution assist features introduction.

    المؤلفون: Torsy, Andreas, Toublan, Olivier R., Zimmermann, Rainer, Smyth, Harry, Hassmann, Jens

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p1172-1183, 12p

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Critical failure ORC: application to the 90-nm and 65-nm nodes.

    المؤلفون: Belledent, Jerome, Shang, Shumay D., Trouiller, Yorick, Miramond, Corinne, Patterson, Kyle, Toublan, Olivier R., Couderc, Christophe, Sundermann, Frank, Rody, Yves F.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p1184-1197, 14p

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Evaluation of IDEALSmile for 90-nm FLASH memory contact holes imaging with ArF scanner.

    المؤلفون: Cantu, Pietro, Capetti, Gianfranco, Loi, Sara, Lupo, Marco, Pepe, Annalisa, Saitoh, Kenji, Yamazoe, Kenji, Hasegawa, Yasuo, Iwasa, Junji, Toublan, Olivier R.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p859-871, 13p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء