يعرض 1 - 10 نتائج من 31 نتيجة بحث عن '"Tousi, Y."', وقت الاستعلام: 1.03s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Dehmeshki, D., Tousi, Y.

    المصدر: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters IEEE Microw. Wireless Tech. Lett. Microwave and Wireless Technology Letters, IEEE. 34(4):403-406 Apr, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: He, R., Rouhafza, A., Tousi, Y.

    المصدر: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters IEEE Microw. Wireless Tech. Lett. Microwave and Wireless Technology Letters, IEEE. 34(3):354-357 Mar, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters Antennas Wirel. Propag. Lett. Antennas and Wireless Propagation Letters, IEEE. 22(9):2270-2274 Sep, 2023

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: He, R., Tousi, Y.

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 58(2):386-399 Feb, 2023

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: He, R., Tousi, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 68(2):647-651 Feb, 2021

  6. 6
  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Tousi, Y., Afshari, E.

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 50(2):597-609 Feb, 2015

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Tousi, Y. M., Momeni, O., Afshari, E.

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 47(12):3032-3042 Dec, 2012

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Tousi, Y. M., Afshari, E.

    المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 46(10):2312-2325 Oct, 2011

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Tousi, Y. M., Afshari, E.

    المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 58(10):2549-2561 Oct, 2010