يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Toyooka, Yudai"', وقت الاستعلام: 0.97s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    An Evaluation of Estimated Field Random Testability for Data Paths at Register Transfer Level Using Status Signal Sequences Based on k-Consecutive State Transitions for Field Testing

    المؤلفون: Toyooka, Yudai, Watanabe, Haruki, Hosokawa, Toshinori, Yoshimura, Masayoshi

    المصدر: 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2023 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء