المؤلفون: Chen, D.Y., Chiou, W.C., Chen, M.F., Wang, T.D., Ching, K.M., Tu, H.J., Wu, W.J., Yu, C.L., Yang, K.F., Chang, H.B., Tseng, M.H., Hsiao, C.W., Lu, Y.J., Hu, H.P., Lin, Y.C., Hsu, C.S., Shue, Winston S., Yu, C.H.

المصدر: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2009 IEEE International. :1-4 Dec, 2009

Relation: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Tu, H.J., Wu, W.J., Hu, J.C., Yang, K.F., Chang, H.B., Chiou, W.C., Yu, C.H

المصدر: 2008 International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2008. IITC 2008. International. :37-39 Jun, 2008

Relation: 2008 International Interconnect Technology Conference - IITC

المؤلفون: Chiou, W.C., Yang, K.F., Yeh, J.L., Wang, S.H., Liou, Y.H., Wu, T.J., Lin, J.C., Huang, C.L., Lu, S.W., Hsieh, C.C., Teng, H.A., Chiu, C.C., Chang, H.B., Wei, T.S., Lin, Y.C., Chen, Y.H., Tu, H.J., Ko, H.D., Yu, T.H., Hung, J.P., Tsai, P.H., Yeh, D.C., Wu, W.C., Su, A.J., Chiu, S.L., Hou, S.Y., Shih, D.Y., Chen, Kim H., Jeng, S.P., Yu, C.H.

المصدر: 2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT) VLSI Technology (VLSIT), 2012 Symposium on. :107-108 Jun, 2012

Relation: 2012 IEEE Symposium on VLSI Technology

المؤلفون: Tu, H.J., Kang, K.H., Ho, S.Y., Liou, H.C., Liou, H.H., Lin, C.P., Fu, W.M.

المصدر: In British Journal of Anaesthesia July 2018 121(1):333-334

المؤلفون: Keh, H.J., Tu, H.J.

المصدر: International Journal of Multiphase Flow; 2000, Vol. 26 Issue: 1 p125-145, 21p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.