-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: U. Celano, A. Fantini, R. Degraeve, M. Jurczak, L. Goux, W. Vandervorst
المصدر: AIP Advances, Vol 6, Iss 8, Pp 085009-085009-6 (2016)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2158-3226
-
2
المؤلفون: K. Kaczmarek, M. Garcia Bardon, Y. Xiang, N. Ronchi, L.-Å. Ragnarsson, U. Celano, K. Banerjee, B. Kaczer, G. Groeseneken, J. Van Houdt
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. :1-7
-
3
المؤلفون: M.I. Popovici, J. Bizindavyi, P. Favia, S. Clima, Md. Nur K. Alam, R.K. Ramachandran, A.M. Walke, U. Celano, A. Leonhardt, S. Mukherjee, O. Richard, A. Illiberi, M. Givens, R. Delhougne, J. Van Houdt, G. Sankar Kar
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cfbc22df6cf2cf53c1ca447f4a7b9f34
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019525 -
4
المؤلفون: L. Magnarin, M. Agati, A. Belmonte, S. Subhechha, N. Rassoul, C. Drijbooms, H. Dekkers, U. Celano
المصدر: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e89205850b697b36a06b710e3b3f2caf
https://doi.org/10.1109/ipfa55383.2022.9915759 -
5
المؤلفون: S. Subhechha, N. Rassoul, A. Belmonte, H. Hody, H. Dekkers, M. J. van Setten, A. Chasin, S.H. Sharifi, S. Sutar, L. Magnarin, U. Celano, H. Puliyalil, S. Kundu, M. Pak, L. Teugels, D. Tsvetanova, N. Bazzazian, K. Vandersmissen, C. Biasotto, D. Batuk, J. Geypen, J. Heijlen, R. Delhougne, G. S. Kar
المصدر: 2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a8dfafc52d9b69a3f5065f4a459005b8
https://doi.org/10.1109/vlsitechnologyandcir46769.2022.9830448 -
6
المؤلفون: N. Ronchi, L. -A. Ragnarsson, U. Celano, B. Kaczer, K. Kaczmarek, K. Banerjee, S. R. C. McMitchell, G. Van den bosch, J. Van Houdt
المصدر: 2022 IEEE International Memory Workshop (IMW).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e4ef99654aa02ef998ce600d3ac412fb
https://doi.org/10.1109/imw52921.2022.9779294 -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10
المؤلفون: A. D. L. Humphris, J. Goulden, J. P. Hole, M. Tedaldi, T. Hantschel, U. Celano, C. O'Sullivan, C. Drilakis
المصدر: 2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA).
مصطلحات موضوعية: Materials science, Extraction (chemistry), Biomedical engineering
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::27fce2beb10e5b729ed4f46a8a0d80b2
https://doi.org/10.1109/ipfa53173.2021.9617432