المؤلفون: Ruimy, Ron, Kaminer, Ido

المصدر: 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2023 IEEE 36th International. :142-145 Jul, 2023

Relation: 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)

المؤلفون: Haindl, Rudolf, Koster, Kerim, Gaida, John H., Franz, Maximilian, Feist, Armin, Ropers, Claus

المصدر: 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC) Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC), 2023 IEEE 36th International. :49-50 Jul, 2023

Relation: 2023 IEEE 36th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC)

المؤلفون: Yiling Lian, Jingya Sun, Lan Jiang

المصدر: International Journal of Mechanical System Dynamics, Vol 3, Iss 3, Pp 192-212 (2023)

مصطلحات موضوعية: ultrafast electron imaging, charge transfer, time‐resolved photoemission electron microscopy, scanning ultrafast electron microscopy, ultrafast transmission electron microscopy, Mechanical engineering and machinery, TJ1-1570, Systems engineering, TA168

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/2767-1402

URL الوصول: https://doaj.org/article/ab302d559ac149e3aa2b0e5955d3b0b1

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: G. M. Caruso, F. Houdellier, S. Weber, M. Kociak, A. Arbouet

المصدر: Advances in Physics: X, Vol 4, Iss 1 (2019)

مصطلحات موضوعية: ultrafast transmission electron microscopy, cold-field emission, ultrafast electron holography, ultrafast electron diffraction, Physics, QC1-999

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://doaj.org/toc/2374-6149

URL الوصول: https://doaj.org/article/f0ef95ec93f44e2f9227f4c11fd664a5

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.