يعرض 1 - 10 نتائج من 10 نتيجة بحث عن '"Vacula, Patrik"', وقت الاستعلام: 0.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    AMBEATion: Analog Mixed-Signal Back-End Design Automation with Machine Learning and Artificial Intelligence Techniques

    المؤلفون: Aliffi, Giulia Elena, Baixinho, Joao, Barri, Dalibor, Daghero, Francesco, Di Carolo, Nicola, Faraone, Gabriele, Grosso, Michelangelo, Pagliari, Daniele Jahier, Jakovenko, Jiri, Janicek, Vladimir, Licastro, Dario, Melikyan, Vazgen, Risso, Matteo, Romano, Vittorio, Serianni, Eugenio, Stastny, Martin, Vacula, Patrik, Vitanza, Giorgia, Xie, Chen

    المصدر: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024. :1-6 Mar, 2024

    Relation: 2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Precise Model of the Effective Threshold Voltage Changes in the DLS MOSFETs for Different Gate Angles Compared with Measured Data

    المؤلفون: Barri, Dalibor, Vacula, Patrik, Kote, Vlastimil, Vacula, Milos, Jakovenko, Jiri, Voves, Jan

    المصدر: 2022 International Conference on Applied Electronics (AE) Applied Electronics (AE), 2022 International Conference on. :1-6 Sep, 2022

    Relation: 2022 International Conference on Applied Electronics (AE)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Incremental control techniques for layout modification

    المؤلفون: Vacula, Patrik, Kote, Vlastimil, Kubacak, Adam, Lzicar, Milan, Zeleny, Radek, Husak, Miroslav, Jakovenko, Jiri

    المصدر: 2016 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM) Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM), 2016 11th International Conference on. :239-242 Nov, 2016

    Relation: 2016 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Spatial systematic mismatch assessment of pre-arranged layout topologies

    المؤلفون: Vancura, Pavel, Jakovenko, Jiri, Kote, Vlastimil, Vacula, Patrik, Kubacak, Adam

    المصدر: In Solid State Electronics August 2020 170

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Automated pre-placement phase as a part of robust analog-mixed signal physical design flow

    المؤلفون: Kote, Vlastimil, Kubacak, Adam, Vacula, Patrik, Jakovenko, Jiri, Husak, Miroslav

    المصدر: In Integration September 2018 63:18-30

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    A True Random Number Generator with Time Multiplexed Sources of Randomness.

    المؤلفون: KOTE, Vlastimil, VACULA, Patrik, MOLATA, Vladimir, VESELY, Ondrej, TLASKAL, Ondrej, BARRI, Dalibor L., JAKOVENKO, Jiri, HUSAK, Miroslav

    المصدر: Radioengineering; Sep2018, Vol. 27 Issue 3, p796-805, 10p

    مصطلحات موضوعية: RANDOM number generators, RANDOM numbers, PSEUDONOISE sequences (Digital communications), INTEGRATED circuits, COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    Comparison of Waffle and standard gate pattern base on specific on-resistance

    المؤلفون: Vacula, Patrik, Husák, Miroslav

    المساهمون: Pihera, Josef, Steiner, František

    مصطلحات موضوعية: tranzistory MOS, MOS structures, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, struktury MOS, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Hardware_LOGICDESIGN, MOS transistors

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::8f5a1792bc282c7bd86bcbba35e96442
    http://hdl.handle.net/11025/11823

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    Waffle MOS channel aspect ratio calculation with Schwarz-Christoffel transformation

    المؤلفون: Vacula, Patrik, Husák, Miroslav

    المساهمون: Pihera, Josef, Steiner, František

    مصطلحات موضوعية: MOS channel, tranzistory MOS, numerical modelling, numerické modelování, Schwarz-Christoffel transformation, MOS kanál, Schwarz-Christoffelova transformace, MOS transistors

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______8936::d6786ccc2edb4edae4d03748fa75b4da
    http://hdl.handle.net/11025/6626

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء