المؤلفون: Van Vleck, T.

المصدر: IEEE Annals of the History of Computing IEEE Annals Hist. Comput. Annals of the History of Computing, IEEE. 34(1):4-6 Jan, 2012

المؤلفون: Van Vleck, T., Reisse, A.

المصدر: Proceedings DARPA Information Survivability Conference and Exposition DARPA information survivability DARPA Information Survivability Conference and Exposition, 2003. Proceedings. 2:152 vol.2 2003

Relation: Proceedings DARPA Information Survivability Conference and Exposition

المؤلفون: Liam Cotter, Girish N. Nadkarni, Eric D. Achtyes, Noam D. Beckmann, Douglas S. Lehrer, Deepak Kaji, Ayman H. Fanous, Carlos N. Pato, Michael Preuss, Eric E. Schadt, Gillian M. Belbin, Alexander W. Charney, Isotta Landi, Steve McCarroll, Mark Hyman Rapaport, Tim B. Bigdeli, M. T. Pato, Loos R, Van Vleck T, Peter F. Buckley, Dolores Malaspina, Eimear E. Kenny, Benjamin S. Glicksberg

مصطلحات موضوعية: business.industry, Schizophrenia, medicine, Predictive power, Polygenic risk score, Psychiatric interview, Disease, Mental illness, medicine.disease, business, Precision medicine, Value (mathematics), Clinical psychology

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3615d5cf462452142e17dd38f5b5717f
https://doi.org/10.1101/2021.03.19.21253906

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.