المؤلفون: Abbati, L. Degli, Ullmann, R., Paganini, G., Coppetta, M., Zaia, L., Huard, V., Montfort, O., Cantoro, R., Insinga, G., Venini, F., Calao, P., Bernardi, P.

المصدر: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2021

Relation: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

المؤلفون: Backhausen, U., Ballan, O., Bemardi, P., De Luca, S., Henzler, J., Kern, T., Piumatti, D., Rabenalt, T., Ramamoorthy, K.C., Sanchez, E., Sansonetti, A., Ullmann, R., Venini, F., Wiesner, R.

المصدر: 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2017 IEEE 23rd International Symposium on. :157-162 Jul, 2017

Relation: 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)

المؤلفون: Bernardi, P., Cantoro, R., Gianotto, L., Restifo, M., Sanchez, E., Venini, F., Appello, D.

المصدر: 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) Test Symposium (LATS), 2017 18th IEEE Latin American. :1-6 Mar, 2017

Relation: 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)

المؤلفون: Appello, D., Bernardi, P., Giacopelli, G., Motta, A., Pagani, A., Pollaccia, G., Rabbi, C., Restifo, M., Ruberg, P., Sanchez, E., Villa, C.M., Venini, F.

المصدر: Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017. :646-649 Mar, 2017

Relation: 2017 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

المؤلفون: Bernardi, P., Bosio, A., Di Natale, G., Guerriero, A., Venini, F.

المصدر: 2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2016 IFIP/IEEE International Conference on. :1-6 Sep, 2016

Relation: 2016 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)

المؤلفون: Appello, D., Bugeja, C., Pollaccia, G., Bernardi, P., Cantoro, R., Restifo, M., Sanchez, E., Venini, F.

المصدر: IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 35(3):46-53 Jun, 2018

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.