-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Claudia Schwerz, Johan Moverare, Vishal Sundar, Benjamin A. Bircher, Alain Küng, Dmitri Riabov, Lars Nyborg
المصدر: Journal of Materials Research and Technology, Vol 29, Iss , Pp 4200-4215 (2024)
مصطلحات موضوعية: In-situ monitoring, Defects, Spatter, Productivity, Fatigue, X-ray computed tomography, Mining engineering. Metallurgy, TN1-997
وصف الملف: electronic resource