-
1
المؤلفون: W.J. Cote, Walter H. Henkels, R.L. Mohler, D.-S. Wen, R.H. Dennard, J.A. Bracchitta, Yuan Taur, T.J. Bucelot, C.W. Long, G.B. Bronner, R.L. Franch
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits. 26:1519-1529
مصطلحات موضوعية: Engineering, Dynamic random-access memory, business.industry, Electrical engineering, Circuit reliability, CAS latency, law.invention, Reliability (semiconductor), CMOS, law, Embedded system, Process window, Electrical and Electronic Engineering, Data retention, business, Dram
-
2
المؤلفون: W.H. Henkels, D.S. Wen, R.L. Mohler, R.L. Franch, T.J. Bucelot, C.W. Long, J.A. Bracchitta, W.J. Cote, G.B. Bronner, Y. Taur, R.H. Dennard
المصدر: 1991 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers.
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b92656c533a4885edaa187b44745c1f4
https://doi.org/10.1109/isscc.1991.689050 -
3مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.