يعرض 1 - 10 نتائج من 29 نتيجة بحث عن '"Walraven, Jeremy A."', وقت الاستعلام: 1.00s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Human Body Model, Machine Model, and Charge Device Model ESD testing of surface micromachined microelectromechanical systems (MEMS)

    المؤلفون: Walraven, Jeremy A., Soden, Jerry M., Cole, Edward I., Tanner, Danelle M., Anderson, Richard E.

    المصدر: 2001 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium, 2001. EOS/ESD '01.. :236-246 Sep, 2001

    Relation: 2001 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Focused Ion Beam Characterization of Low Melting Point Metals at Cryogenic Temperatures.

    المؤلفون: Perry, Daniel L., Cummings, Damion P., Walraven, Jeremy A., Jordan, Matthew B., Michael, Joseph R., Deitz, Julia I.

    المصدر: Microscopy & Microanalysis; 2022 Supplement, Vol. 28, p78-79, 2p

    Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Backside preparation and failure analysis for packaged microelectromechanical systems (MEMS).

    المؤلفون: Walraven, Jeremy A., Cole Jr., Edward I., Barr, David L., Anderson, Richard E., Kilgo, Alice, Maciel, John J., Morrison, Richard, Karabudak, Nafiz N.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p165-172, 8p

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Damage of MEMS thermal actuators heated by laser irradiation.

    المؤلفون: Phinney, Leslie M., Klody, Kelly A., Sackos, John T., Walraven, Jeremy A.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p81-88, 8p

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Electrothermal actuator reliability studies.

    المؤلفون: Plass, Richard A., Baker, Michael S., Walraven, Jeremy A.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2004, Issue 1, p15-21, 7p

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    Anodic oxidation-induced delamination of the SUMMiT poly 0 to Silicon Nitride Interface.

    المؤلفون: Plass, Richard A., Walraven, Jeremy A., Tanner, Danelle M., Sexton, Frederick W.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2003, Issue 1, p81-86, 6p

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Failure analysis of a multi-degree-of-freedom spatial microstage.

    المؤلفون: Walraven, Jeremy A., Jokiel Jr., Bernhard

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2003, Issue 1, p97-105, 9p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Characterization of an inchworm actuator fabricated by polysilicon surface micromachining.

    المؤلفون: de Boer, Maarten P., Luck, David L., Walraven, Jeremy A., Redmond, James M.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2001, Issue 1, p169-180, 12p

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Failure analysis of radio frequency (rf) micro-electro-mechanical systems (MEMS).

    المؤلفون: Walraven, Jeremy A., Cole Jr., Edward I., Sloan, Lynn R., Hietala, Susan L., Tigges, Chris P., Dyck, Christopher W.

    المصدر: Proceedings of SPIE; Nov2001, Issue 1, p254-259, 6p

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء