يعرض 1 - 10 نتائج من 577 نتيجة بحث عن '"Wang, J.K."', وقت الاستعلام: 1.11s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Toward a GHz-Frequency BEOL Ferroelectric Negative-Capacitance Oscillator With a Wide Tuning Range

    المؤلفون: Wang, J.K., VanEssen, C., Yang, N., Yuan, Z.C., Gudem, P.S., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Nanotechnology IEEE Trans. Nanotechnology Nanotechnology, IEEE Transactions on. 23:591-599 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    On the Existence of Negative Capacitance: Examining Ferroelectric-Dielectric Stack Experiments Using the NLS and LK Models

    المؤلفون: Cam, T., Byers, J., Wang, J.K., VanEssen, C., Gudem, P.S., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 70(7):3542-3550 Jul, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Potential Enhancement of fT and gₘfT/ID via the Use of NCFETs to Mitigate the Impact of Extrinsic Parasitics

    المؤلفون: Wang, J.K., VanEssen, C., Cam, T., Ferrer, K., Yuan, Z.C., Gudem, P.S., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(8):4153-4161 Aug, 2022

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Sustained Benefits of NCFETs Under Extreme Scaling to the End of the IRDS

    المؤلفون: Cam, T., Wang, J.K., Wong, M., Holland, K.D., Gudem, P.S., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 67(9):3843-3851 Sep, 2020

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    RF Performance Projections of Negative-Capacitance FETs: fT, fmax, and gmfT/ID

    المؤلفون: Wang, J.K., Gudem, P.S., Cam, T., Yuan, Z.C., Wong, M., Holland, K.D., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 67(8):3442-3450 Aug, 2020

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Toward Microwave S- and X-Parameter Approaches for the Characterization of Ferroelectrics for Applications in FeFETs and NCFETs

    المؤلفون: Yuan, Z.C., Gudem, P.S., Wong, M., Wang, J.K., Hook, T.B., Solomon, P., Kienle, D., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 66(4):2028-2035 Apr, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    Measuring tread depth with light-spot analysis

    المؤلفون: Wang, J.K., Huang, S.Y.

    المصدر: 2017 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation (ICMA) Mechatronics and Automation (ICMA), 2017 IEEE International Conference on. :1660-1664 Aug, 2017

    Relation: 2017 IEEE International Conference on Mechatronics and Automation (ICMA)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Channel Material Dependence of Wave Function Deformation Scattering in Ultrascaled FinFETs

    المؤلفون: Wong, M., Holland, K.D., Wang, J.K., Cam, T., Hook, T.B., Kienle, D., Gudem, P.S., Vaidyanathan, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(12):5107-5113 Dec, 2017

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Attack path reconstruction from adverse consequences on power grids with a focus on Monitoring-Layer attacks

    المؤلفون: Wang, J.K., Moya, Christian

    المصدر: 2016 Joint Workshop on Cyber- Physical Security and Resilience in Smart Grids (CPSR-SG) Cyber- Physical Security and Resilience in Smart Grids (CPSR-SG), Joint Workshop on. :1-6 Apr, 2016

    Relation: 2016 Joint Workshop on Cyber- Physical Security and Resilience in Smart Grids (CPSR-SG)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Optimization of high tilt pocket implant process for improving deep sub-micro PMOS device sensitivity

    المؤلفون: Yeh, K.S.Y., Chiang, M.C., Tsai, C.J., Wang, Y.L., Wang, J.K.

    المصدر: Ion Implantation Technology. 2002. Proceedings of the 14th International Conference on Ion implantation technology proceedings Ion Implantation Technology. 2002. Proceedings of the 14th International Conference on. :13-16 2002

    Relation: Proceedings of the 2002 14th International Conference on Ion Implantation Technology

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء