المؤلفون: Tsui, T.Y., Matz, P., Willecke, R., Zielinski, E., Tae Kim, Haase, G., McPherson, J., Singh, A., McKerrow, A.J.

المصدر: Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729) Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2004. Proceedings of the IEEE 2004 International. :78-80 2004

Relation: Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference

المؤلفون: Tsui, T.Y., Willecke, R., McKerrow, A.J.

المصدر: Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.03TH8695) Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2003. Proceedings of the IEEE 2003 International. :45-47 2003

Relation: IEEE International Interconnect Technology Conference

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Faupel, F., Hüppe, P. W., Rätzke, K., Willecke, R., Hehenkamp, Th.

المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1992, Vol. 10 Issue 1, p92-97, 6p

المؤلفون: Strunskus, T., Kiene, M., Willecke, R., Thran, A., v. Bechtolsheim, C., Faupel, F.

المصدر: Materials & Corrosion / Werkstoffe und Korrosion; Mar1998, Vol. 49 Issue 3, p180-188, 9p

المؤلفون: Liou, H.-C., Willecke, R., Ho, P. S.

المصدر: Thin Solid Films; 1998, Vol. 323 Issue: 1 p203-208, 6p

المؤلفون: Willecke, R., Faupel, F.

المصدر: Macromolecules; February 10, 1997, Vol. 30 Issue: 3 p567-573, 7p

المؤلفون: Willecke, R., Faupel, F.

المصدر: Journal of Polymer Science Part B: Polymer Physics; May 1997, Vol. 35 Issue: 7 p1043-1048, 6p

المؤلفون: Faupel, Franz, Willecke, R., Thran, A., Kiene, M., Bechtolsheim, C.v., Strunskus, T.

المصدر: Diffusion and Defect Data Part A: Defect and Diffusion Forum; January 1997, Vol. 143 Issue: 1 p887-902, 16p