المؤلفون: Li, Po-Yu, Lee, Wei-En, Lin, Ching-Tzung, Wu, Li-Te, Lin, Tsung-Hsien

المصدر: 2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), 2020 International Symposium on. :1-2 Aug, 2020

Relation: 2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

المؤلفون: Wang, Pai-Yi, Wu, Li-Te, Kuo, Tai-Haur

المصدر: 2014 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC) Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), 2014 IEEE Asian. :69-72 Nov, 2014

Relation: 2014 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)

المؤلفون: Chien, Shih-Hsiung, Wu, Li-Te, Chen, Ssu-Ying, Jan, Ren-Dau, Shih, Min-Yung, Lin, Ching-Tzung, Kuo, Tai-Haur

المصدر: Proceedings of the IEEE 2014 Custom Integrated Circuits Conference Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2014 IEEE Proceedings of the. :1-4 Sep, 2014

Relation: 2014 IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC 2014

المؤلفون: Wu, Tzee-Chung, Lau, Beng-Huat, Chen, Po-Hon, Wu, Li-Te, Tang, Ren-Bin

المصدر: In Journal of the Chinese Medical Association 2010 73(11):581-588

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.