-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Tsai, S., Hsu, H., Wuerfl, J., Chang, E.Y.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 63(10):3876-3881 Oct, 2016
-
2دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Fregolent, M., Boito, M., Marcuzzi, A., De Santi, C., Chiocchetta, F., Treidel, E. Bahat, Wolf, M., Brunner, F., Hilt, O., Würfl, J., Meneghesso, G., Zanoni, E., Meneghini, M.
المصدر: In Microelectronics Reliability November 2022 138
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Rossetto, I., Meneghini, M., Hilt, O., Bahat-Treidel, E., De Santi, C., Dalcanale, S., Wuerfl, J., Zanoni, E., Meneghesso, G.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 63(6):2334-2339 Jun, 2016
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Kraemer, T., Meliani, C., Schmueckle, F.-J., Wuerfl, J., Traenkle, G.
المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 57(9):2114-2121 Sep, 2009
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kraemer, T., Rudolph, M., Schmueckle, F. J., Wuerfl, J., Traenkle, G.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 56(9):1897-1903 Sep, 2009
-
8مؤتمر
المؤلفون: Kraemer, T., Meliani, C., Lenk, F., Wuerfl, J., Traenkle, G.
المصدر: 2008 20th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials Indium Phosphide and Related Materials, 2008. IPRM 2008. 20th International Conference on. :1-3 May, 2008
Relation: 2008 IEEE 20th International Conference on Indium Phosphide & Related Materials (IPRM)
-
9مؤتمر
المؤلفون: Meneghesso, G., Zanandrea, A., Stocco, A., Rossetto, I., De Santi, C., Rampazzo, F., Meneghini, M., Zanoni, E., Bahat-Treidel, E., Hilt, O., Ivo, P., Wuerfl, J.
المصدر: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International. :3C.1.1-3C.1.7 Apr, 2013
Relation: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Capriotti, M., Bahat Treidel, E., Fleury, C., Bethge, O., Ostermaier, C., Rigato, M., Lancaster, S.L.C., Brunner, F., Detz, H., Hilt, O., Würfl, J., Pogany, D., Strasser, G.
المصدر: In Solid State Electronics November 2016 125:118-124
Full Text Finder