يعرض 1 - 10 نتائج من 6,451 نتيجة بحث عن '"Xi L."', وقت الاستعلام: 1.52s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 73(2):1353-1367 Jun, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Xi, L., Li, H., Zhu, J., Li, Y., Wang, S.

    المصدر: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems IEEE Trans. Neural Netw. Learning Syst. Neural Networks and Learning Systems, IEEE Transactions on. 35(5):5824-5834 May, 2024

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yan, T., Wang, D., Xia, T., Pan, E., Peng, Z., Xi, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems IEEE Trans. Neural Netw. Learning Syst. Neural Networks and Learning Systems, IEEE Transactions on. 35(5):6048-6060 May, 2024

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics IEEE J. Select. Topics Quantum Electron. Selected Topics in Quantum Electronics, IEEE Journal of. 30(3: Flexible Optoelectronics):1-9 Jun, 2024

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Photonics Technology Letters IEEE Photon. Technol. Lett. Photonics Technology Letters, IEEE. 36(7):496-499 Apr, 2024

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Li, Z., Wang, X., Xi, L., Li, Y., Hua, C.

    المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(13):23661-23672 Jul, 2024

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Internet of Things Journal IEEE Internet Things J. Internet of Things Journal, IEEE. 11(13):22853-22868 Jul, 2024

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Wang, X., Xi, L., Ding, Y., Chen, B.M.

    المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 71(7):7520-7530 Jul, 2024

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Smart Grid IEEE Trans. Smart Grid Smart Grid, IEEE Transactions on. 15(2):1330-1345 Mar, 2024

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 73(1):170-185 Mar, 2024