-
1مؤتمر
المؤلفون: Huynh, Phat K., Singh, Gurmeet, Yadav, Om P., Le, Trung Q., Le, Chau
المصدر: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2024 Annual. :1-6 Jan, 2024
Relation: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Huynh, Phat K., Rahman, M Mishkatur, Yadav, Om P., Le, Trung Q., Le, Chau
المصدر: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2024 Annual. :1-7 Jan, 2024
Relation: 2024 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS)
-
3مؤتمر
المؤلفون: Huynh, Phat K., Alqarni, Abdulsalam A., Yadav, Om P., Le, Trung Q.
المصدر: 2023 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS) Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2023 Annual. :1-7 Jan, 2023
Relation: 2023 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS)
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Augustine, ManuAff1, IDs1106302411623y_cor1, Yadav, Om Prakash, Nayyar, Ashish, Joshi, Dheeraj
المصدر: Neural Processing Letters. 56(3)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Majeed, Althaf K, Yadav, Om Kumar, Taywade, SameerAff1, IDs13139024008554_cor3, Kumar, Rajesh, Sandhu, Arjun Singh
المصدر: Nuclear Medicine and Molecular Imaging. :1-2
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Yadav, Om PrakashAff1, IDs40534022002978_cor1, Vyas, Nalinaksh S.
المصدر: Railway Engineering Science. 31(3):233-251
-
7تقرير
المؤلفون: Huynh, Phat K., Setty, Arveity R., Yadav, Om P., Le, Trung Q.
مصطلحات موضوعية: Statistics - Applications, Electrical Engineering and Systems Science - Signal Processing
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2111.05761
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.