يعرض 1 - 10 نتائج من 2,068 نتيجة بحث عن '"Yamanishi, K."', وقت الاستعلام: 0.87s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Network Change Detection Based on Random Walk in Latent Space

    المؤلفون: Lin, C., Xu, L., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering IEEE Trans. Knowl. Data Eng. Knowledge and Data Engineering, IEEE Transactions on. 35(6):6136-6147 Jun, 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Fourier-Analysis-Based Form of Normalized Maximum Likelihood: Exact Formula and Relation to Complex Bayesian Prior

    المؤلفون: Suzuki, A., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 67(9):6164-6178 Sep, 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    MixSp: A Framework for Embedding Heterogeneous Information Networks With Arbitrary Number of Node and Edge Types

    المؤلفون: Xu, L., Wang, J., He, L., Cao, J., Wei, X., Yu, P.S., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Knowledge and Data Engineering IEEE Trans. Knowl. Data Eng. Knowledge and Data Engineering, IEEE Transactions on. 33(6):2627-2639 Jun, 2021

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Traffic Risk Mining From Heterogeneous Road Statistics

    المؤلفون: Moriya, K., Matsushima, S., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Intelligent Transportation Systems IEEE Trans. Intell. Transport. Syst. Intelligent Transportation Systems, IEEE Transactions on. 19(11):3662-3675 Nov, 2018

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Correction to Efficient Computation of Normalized Maximum Likelihood Codes for Gaussian Mixture Models With Its Applications to Clustering [Nov 13 7718-7727]

    المؤلفون: Hirai, S., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 65(10):6827-6828 Oct, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Efficient Computation of Normalized Maximum Likelihood Codes for Gaussian Mixture Models With Its Applications to Clustering

    المؤلفون: Hirai, S., Yamanishi, K.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 59(11):7718-7727 Nov, 2013

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Model Change Detection With the MDL Principle

    المؤلفون: Yamanishi, K., Fukushima, S.

    المصدر: IEEE Transactions on Information Theory IEEE Trans. Inform. Theory Information Theory, IEEE Transactions on. 64(9):6115-6126 Sep, 2018

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Dynamic model selection with its applications to computer security

    المؤلفون: Maruyama, Y., Yamanishi, K.

    المصدر: Information Theory Workshop Information theory workshop Information Theory Workshop, 2004. IEEE. :82-87 2004

    Relation: 2004 IEEE Information Theory Workshop

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Solution of in-line inspection problem for grainy metal layers by "saturation effect" of grayscale

    المؤلفون: Onoyama, A., Sakurai, K., Fujii, T., Oka, K., Yamanishi, K.

    المصدر: Proceedings of ISSM2000. Ninth International Symposium on Semiconductor Manufacturing (IEEE Cat. No.00CH37130) Semiconductor manufacturing Semiconductor Manufacturing, 2000. Proceedings of ISSM 2000. The Ninth International Symposium on. :203-206 2000

    Relation: Proceedings of ISSM2000. Ninth International Symposium on Semiconductor Manufacturing

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Capture rate enhancement method of 0.1 /spl mu/m-level defects by pattern matching inspectors

    المؤلفون: Sakurai, K., Onoyama, A., Ishii, H., Oka, K., Yamanishi, K.

    المصدر: 1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings (Cat No.99CH36314) Semiconductor manufacturing Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings, 1999 IEEE International Symposium on. :131-134 1999

    Relation: 1999 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing Conference Proceedings

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء