-
1دورية أكاديمية
المصدر: In Microelectronics Reliability November 2023 150
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Wang, Z.C., Chen, C., Wang, H.D., Wang, C.Y., Wang, Z.F., Ye, X.R.
المصدر: In Microelectronics Reliability November 2023 150
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Ye, X.R., Chen, H., Deng, J., Wu, Y., Liang, H.M., Zhai, G.F.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Ye, X.R., Chen, C., Wang, Y.X., Wang, L., Zhai, G.F.
المصدر: In Microelectronics Reliability January 2018 80:37-41
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Xu, J.F., Ji, W., Shen, Z.X., Tang, S.H., Ye, X.R., Jia, D.Z., Xin, X.Q.
المصدر: In Journal of Solid State Chemistry 1 November 1999 147(2):516-519
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية
المصدر: Applied Surface Science; September 1998, Vol. 135 Issue: 1-4 p307-317, 11p
-
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.