المؤلفون: Liu, W.M., Chen, C., Lin, Y.G., Ye, X.R., Zhai, G.F., Lin, R.S., Zheng, W.

المصدر: In Microelectronics Reliability November 2023 150

المؤلفون: Wang, Z.C., Chen, C., Wang, H.D., Wang, C.Y., Wang, Z.F., Ye, X.R.

المصدر: In Microelectronics Reliability November 2023 150

المؤلفون: Ye, X.R., Chen, H., Deng, J., Wu, Y., Liang, H.M., Zhai, G.F.

المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

المؤلفون: Ye, X.R., Chen, C., Wang, Y.X., Wang, L., Zhai, G.F.

المصدر: In Microelectronics Reliability January 2018 80:37-41

المؤلفون: Xu, J.F., Ji, W., Shen, Z.X., Tang, S.H., Ye, X.R., Jia, D.Z., Xin, X.Q.

المصدر: In Journal of Solid State Chemistry 1 November 1999 147(2):516-519

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Ye, X.R, Xin, X.Q, Zhu, J.J, Xue, Z.L

المصدر: Applied Surface Science; September 1998, Vol. 135 Issue: 1-4 p307-317, 11p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.