المؤلفون: Yeh, C.F., Chen, D.C., Lu, C.Y., Liu, C., Lee, S.T., Liu, C.H., Chen, T.J.

المصدر: International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217) Electron devices - IEDM 1998 Electron Devices Meeting, 1998. IEDM '98. Technical Digest., International. :269-272 1998

Relation: International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest

المؤلفون: Chung, S.S., Chen, D.C., Cheng, C.T., Yeh, C.F.

المصدر: International Electron Devices Meeting. Technical Digest Electron devices Electron Devices Meeting, 1996. IEDM '96., International. :139-142 1996

Relation: International Electron Devices Meeting. Technical Digest

المؤلفون: Chung, S.S., Liu, Y.R., Yeh, C.F., Wu, S.R., Lai, C.S., Chang, T.Y., Ho, J.H., Liu, C.Y., Huang, C.T., Tsai, C.T.

المصدر: Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005. VLSI Technology VLSI Technology, 2005. Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on. :86-87 2005

Relation: 2005 Symposium on VLSI Technology

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.