-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Yoneyama, T., Kuwahata, A., Murayama, T., Tonthat, L., Yabukami, S., Sato, Y., Teramura, Y., Ikeda-Ohtsubo, W., Ogawa, T.
المصدر: IEEE Transactions on Magnetics IEEE Trans. Magn. Magnetics, IEEE Transactions on. 58(8):1-6 Aug, 2022
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Moreira, F.R.D.S., Verri, F.A.N., Yoneyama, T.
المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 10:8960-8973 2022
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Almeida, T.P., Soriano, D.C., Mase, M., Ravelli, F., Bezerra, A.S., Li, X., Chu, G.S., Salinet, J., Stafford, P.J., Andre Ng, G., Schlindwein, F.S., Yoneyama, T.
المصدر: IEEE Transactions on Biomedical Engineering IEEE Trans. Biomed. Eng. Biomedical Engineering, IEEE Transactions on. 68(4):1131-1141 Apr, 2021
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Graves, J.C., Leal Turcio, W.H., Yoneyama, T.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 68(2):710-719 Jun, 2019
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Tatsuno, D.Aff1, IDs11665022070100_cor1, Tanaka, R., Yoneyama, T.
المصدر: Journal of Materials Engineering and Performance. 31(12):9615-9629
-
6مؤتمر
المؤلفون: Ogawa, K., Hasegawa, H., Yoneyama, T., Yamamoto, T.
المصدر: 2016 19th International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS) Electrical Machines and Systems (ICEMS), 2016 19th International Conference on. :1-4 Nov, 2016
Relation: 2016 19th International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS)
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Vianna, W.O.L., Yoneyama, T.
المصدر: IEEE Systems Journal Systems Journal, IEEE. 12(2):1170-1181 Jun, 2018
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Gomes, J.P.P., Rodrigues, L.R., Leao, B.P., Galvao, R.K.H., Yoneyama, T.
المصدر: IEEE Transactions on Automation Science and Engineering IEEE Trans. Automat. Sci. Eng. Automation Science and Engineering, IEEE Transactions on. 15(1):214-224 Jan, 2018
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Leao, B.P., Yoneyama, T., Gomes, J.P.P.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 65(3):1406-1415 Sep, 2016
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Gomes, J. P. P., Galvao, R. K. H., Yoneyama, T., Leao, B. P.
المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 65(1):326-335 Mar, 2016
Full Text Finder 
Find this article in full text from Springer Verlag.