لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Lee, Geon-Beom, Kim, Choong-Ki, Bang, Tewook, Yoo, Min-Soo, Choi, Yang-Kyu

المصدر: In Microelectronics Reliability December 2021 127

المؤلفون: Lee, Geon-Beom, Kim, Choong-Ki, Bang, Tewook, Yoo, Min-Soo, Park, Jun-Young, Choi, Yang-Kyu

المصدر: In Microelectronics Reliability January 2020 104

المؤلفون: Kim, Kyung-Do, Kim, Kwi-Wook, Yoo, Min-Soo, Kim, Yong-Taik, Park, Sung-Kye, Hong, Sung-Joo, Park, Chan-Hyeong, Park, Byung-Gook, Lee, Jong-Ho

المصدر: 2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2015 IEEE International. :7.2.1-7.2.4 Dec, 2015

Relation: 2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Kim, Choong-Ki, Phadke, Omkar, Kim, Tae-Hyeon, Kim, Myung-Su, Yu, Ji-Man, Yoo, Min-Soo, Choi, Yang-Kyu, Yu, Shimeng

المصدر: IEEE Electron Device Letters; 2024, Vol. 45 Issue: 5 p929-932, 4p

المؤلفون: Jang, Tae-Su, Kim, Kyung-do, Yoo, Min-Soo, Kim, Yong-Taik, Cha, Seon-Yong, Jeong, Jae-Goan, Hong, Sung-Joo

المصدر: 2011 International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium (IRPS), 2011 IEEE International. :2D.2.1-2D.2.4 Apr, 2011

Relation: 2011 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Yoo, Min Soo, Shin, Kwang S., Kim, Nack J.

المصدر: Metallurgical and Materials Transactions A. May 2004 35(5):1629-1632

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.